一 、涂層測(cè)厚儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
時(shí)代TC2500涂層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
二、涂層測(cè)厚儀 基本原理
涂層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法、可無(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。基本工作原理是：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
三、涂層測(cè)厚儀 基本配置及儀器結(jié)構(gòu)
1.基本配置：涂層主機(jī) 1 臺(tái)；標(biāo)準(zhǔn)樣片1套；標(biāo)準(zhǔn)基體1塊；充電器1個(gè)；
2.儀器結(jié)構(gòu)本儀器基本組成部分見(jiàn)圖1。
圖 1
1. 測(cè)頭 2.充電指示燈 3.液晶顯示屏幕 4. 按鍵操作區(qū) 5.開(kāi)/關(guān)鍵 6.miniUSB插座 7.校零鍵
一、性能指標(biāo)
1.測(cè)量范圍及測(cè)量誤差（見(jiàn)表一）
表一
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型號(hào) |
工作原理 |
測(cè)量范圍(μm) |
低限 分辨力(μm) |
示值誤差(μm) |
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零點(diǎn)校準(zhǔn) |
二點(diǎn)校準(zhǔn) |
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F1 |
磁感應(yīng) |
0~1250 |
1 |
±(3%H+1) |
±[(1%~3%)H+1] |
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型號(hào) |
待測(cè)基體*小曲率半徑(mm) |
基體*小面積的直徑(mm) |
基體臨界厚度(mm) |
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F1 |
凸1.5 |
凹9 |
?7 |
0.5 |
注：H—標(biāo)稱值
2.使用環(huán)境：溫度：0~40℃濕度：20%～75% 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
3.電源：鋰電池3.6 V
4.外型尺寸：150mm×55.5mm×23mm
5.重量：150g
二、涂層測(cè)厚儀 主要功能
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
OLED高亮顯示屏，顯示清晰；
具有欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
